XJL-302DIC stor positionell differentiell interferensfasmikroskop är lämplig för reflekterande differentiell interferensfasobservation av ytformen av ogenomsiktiga objekt, och kan också genomskinliga objekt genomföras genom perspektivmikroskop. Användning av utmärkt oändlig långdistans optiska system och modulära funktioner design koncept, kan lätt uppgradera systemet, förverkliga polarisering observation, differentiell interferens lining observation och andra funktioner, kompakt och stabil hög stivhet huvud, fullt ut återspeglar mikro drift vibrationsskydd krav. Den idealiska designen för att uppfylla kraven på ergonomi gör driften bekvämare och mer utrymme. Det är ett idealiskt instrument för metallologi, mineralogi och precisionsteknik.