Remote VNF-200 VCSEL Near Field Characteristic Analyzer är utformad för analys av VCSEL:s Near Field Characteristics för att kombinera snabba mäthastigheter, hög optisk upplösning och hög mätnoggrannhet. Instrumentet använder ett mikrooptiskt system i kombination med bildsystem och optimerar utformningen baserat på VCSELs egenskaper för att uppnå VCSELs högförstoringsgrad mikrobildstrålningsanalys. Genom en enda mätning får du VCSEL-ytans tvådimensionella array, dålig punktdetektion och strålningsljusstyrkedata, samtidigt som du får en enda punktstorlek. Utrustad med dedikerad analysprogramvara för att utföra testrapporter som uppfyller standarden. För snabb och noggrann analys av VCSEL-ytegenskaper i produktionslinjer och laboratorier.